| 專利名稱 | 一種光學系統及其畸變校正方法及系統 | ||
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| 申請號/專利號 | CN201810258291.2 | 專利權人（第一權利人） | 長春理工大學 |
| 申請日 | 2018-03-27 | 授權日 | 2020-08-07 |
| 專利類別 | 授權發明 | 戰略新興產業分類 | 雙五星 |
| 技術主題 | 紅外圖像|近紅外|基于圖像|光學系統|焦距|失真校正|可見光|光軸|材料科學|準直器 | ||
| 應用領域 | 圖像增強|圖像分析 | ||
| 意向價格 | 具體面議 | ||
| 專利概述 | 本發明公開了一種光學系統及其畸變校正方法及系統。所述畸變校正方法包括：獲取平行光管產生平行光時的第一平行光管透鏡焦距；根據所述第一平行光管透鏡焦距確定可見光圖像以及近紅外圖像；以入射光的光軸為Z軸，垂直于光軸的平面為XOY面，建立圖像坐標系；獲取網格板內的單位正方形的邊長；所述網格板包括多個單位正方形；根據所述邊長確定所述單位正方形對應的像素點；根據所述像素點以及所述圖像坐標系確定坐標變換矩陣；根據所述可見光圖像以及所述變換矩陣確定可見光無畸變圖像；根據所述近紅外圖像以及所述變換矩陣確定近紅外無畸變圖像。采用本發明所提供的光學系統及其畸變校正方法及系統能夠降低光學系統的測量誤差。 | ||
| 圖片資料 |
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| 合作方式 | 具體面議 | ||
| 聯系人 | 戚梅宇 | 聯系電話 | 13074363281 |
